膜厚测试仪

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XTU-50A膜厚测试仪

上架时间:2020-08-18
浏览次数:1010
产品类型:膜厚测试仪
产品颜色:
产品价格:¥
产品详情

仪器简介

XTU-50A是一款性能卓越、设计紧凑并被广泛应用的X荧光涂镀层测厚及材料成分分析仪,常用于无损测量各类小工件上的镀层厚度和材料成分的分析。广泛用于各类镀层产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。


设计理念

1.下照式

为了样品定位简单快捷,仪器采用了下照式设计,即X射线发生器和比例接收器都集成在了仪器下部的舱室中。

2.C型开槽设计

仪器采用了C型开口设计,使得在测量大型工件品时同样方便快捷。

3.封闭式软件

仪器采用了人性化封闭式软件,自动提示校正和步骤,避免操作错误。

4.报表清晰呈现

仪器操作及测量结果的数据显示, 都通过强大的EFP-T算法软件在电脑上, 以报表的形式呈现。


产品优势

1.下照式设计:可以快速方便地定位对焦样品。

2.变焦装置算法:可对各种异形凹槽进行检测,凹槽深度可达0-30mm,特殊要求可达90mm。

3.微焦X射线装置:检测面积可小于0.04mm?的样品,可测试各微小的部件。

4.高效率正比接收器:即使测试0.01mm?以下的样品,几秒钟也能达到稳定性。

5.先进EFP算法软件:多层多元素, 包括有同种元素在不同涂镀层的检测, 都可快, 准, 稳。


应用领域

1.线路板、引线框架以及电子元器件接插件检测

2.镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析

3.手表、精密仪表制造行业

4.钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNd B

5.汽车、五金、电子产品等其他紧固件的表面处理检测

6.卫浴产品装饰把手上Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

7.电镀液的金属阳离子检测


仪器配置

1.微焦X射线发生器

2.光路转换聚焦系统

3.高敏变焦测距装置

4.高效率正比接收器

5.先进的信号放大器

6.标准片Ni/Fe5um

7.标准片Au/Ni/Cu0.1um/2um


技术参数

1.元素分析范围:氯(Cl)~铀(U)

2.涂镀层分析范围:各种元素及有机物

3.一次性同时分析:23层镀层,24种元素

4.厚度最低检出限:0.005um

5.最小测量面积:0.04mm?(多种准直器可选)

6.测量距离:0-30mm,特殊要求可到90mm(测试凹槽,可变焦)

7.样品腔尺寸:500mmX360mm×215mm

8.C型设计,允许测试超出样品腔板装物体

9.仪器尺寸:550mm×480mm×470mm

10.仪器重量:45kg

11.XY轴工作台移动范围:50mm×50mm

12.XY轴工作台最大承重:5KG


选配附件

1.配件箱:其中包括仪器相关配线,密码狗,十二元素片,Ni/Fe5um,Au/Ni/Cu0.1um/2um,网圈等。

2.电镀液测试附件整套:含两个测量杯一卷测试膜, 可用于多品牌X-RAY测厚仪上使用, 电镀液测试样品杯采用高纯元素本底,提高测量精度和检出限,严格控制了容量和溢出物的处理,用来测药水溶液中金属离子的浓度,使用方便简捷,无污染。

3.测厚仪标准片:校正片, 又称标准箔, 膜厚片, 通用于所有X射线镀层测厚仪(Elite、Fischer、Oxford(CMI) Thermo、Veeco、华唯计量等) , 本公司标准片规格齐全, 可送检第三方出具CNAS证书, 为仪器精准测试保驾护航,欢迎来电咨询。


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